1.溫濕度自動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)驗(yàn)證概述
根據(jù)新版GSP《藥i品經(jīng)營(yíng)質(zhì)量管理規(guī)范》)中涉及的驗(yàn)證方案范圍與內(nèi)容,包括對(duì)冷庫、冷藏車、冷藏箱、保溫箱以及溫濕度自動(dòng)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)等進(jìn)行驗(yàn)證,確認(rèn)相關(guān)設(shè)施、設(shè)備及監(jiān)測(cè)系統(tǒng)能夠符合規(guī)定的設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)和要求,并能安全、有校地正常運(yùn)行和使用,確保冷藏、冷凍藥i品在儲(chǔ)存、運(yùn)輸過程中的質(zhì)量安全。
驗(yàn)證使用的系統(tǒng)溫濕度測(cè)量設(shè)備的罪大允許誤差應(yīng)當(dāng)符合以下要求:
a. 溫度的罪大允許誤差為±0.5℃;
b. 相對(duì)濕度的罪大允許誤差為±1%RH
2.驗(yàn)證依據(jù)
《藥i品經(jīng)營(yíng)質(zhì)量管理規(guī)范》及其附錄;
《驗(yàn)證管理制度》及《驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程》。
溫濕度監(jiān)測(cè)系統(tǒng)驗(yàn)證實(shí)施流程
1.根據(jù)驗(yàn)證項(xiàng)目確定驗(yàn)證布點(diǎn)
2.采集測(cè)點(diǎn)數(shù)據(jù)
3.數(shù)據(jù)分析及結(jié)果評(píng)價(jià)
4.完成整套驗(yàn)證方案及驗(yàn)證報(bào)告
溫濕度記錄儀在電子產(chǎn)品生產(chǎn)中的應(yīng)用
大多數(shù)電子產(chǎn)品都需要在干燥條件下工作和儲(chǔ)存。據(jù)統(tǒng)計(jì),每年有1/4以上的工業(yè)不良產(chǎn)品與濕度危害有關(guān)。對(duì)于電子行業(yè)來說,濕度的危害已經(jīng)成為影響產(chǎn)品質(zhì)量的主要因素之一溫濕度記錄儀起著重要的作用
其它電子器件:電容器、陶瓷器件、接插件、開關(guān)件、焊錫、PCB、晶體、硅晶片、石英振蕩器、SMT膠、電極材料粘合劑、電子漿料、高亮度器件等,均會(huì)受到潮濕的危害。
作業(yè)過程中的電子器件:封裝中的半成品到下一工序之間;PCB封裝前以及封裝后到通電之間;拆封后但尚未使用完的IC、BGA、PCB等;等待錫爐焊接的器件;烘烤完畢待回溫的器件;尚未包裝的半成品等,均會(huì)受到潮濕的危害
作業(yè)過程中的電子器件:封裝中的半成品到下一工序之間;PCB封裝前以及封裝后到通電之間;拆封后但尚未使用完的IC、BGA、PCB等;等待錫爐焊接的器件;烘烤完畢待回溫的器件;尚未包裝的產(chǎn)成品等,均會(huì)受到潮濕的危害。
成品電子整機(jī)在倉儲(chǔ)過程中亦會(huì)受到潮濕的危害。如在高濕度環(huán)境下存儲(chǔ)時(shí)間過長(zhǎng),將導(dǎo)致故障發(fā)生,對(duì)于計(jì)算機(jī)板卡CPU等會(huì)使金手指氧化導(dǎo)致接觸不良發(fā)生故障。
不同質(zhì)量的顯示將直接影響記錄儀的使用和壽命。為了測(cè)試溫度記錄儀顯示器的質(zhì)量,主要從兩個(gè)方面進(jìn)行判斷
一.亮度均勻性:亮度均勻性
測(cè)試步驟:
1.將要測(cè)試的面板和測(cè)試設(shè)備安裝在環(huán)境光泄漏<2 Lux的暗室中
2.預(yù)熱時(shí)間:黑屏20分鐘,外加9個(gè)白色圓點(diǎn)。
3.分別測(cè)量亮度,將9點(diǎn)的zui大值除以zui小值,結(jié)果是均勻值。
注意:1.當(dāng)亮度不均勻時(shí),屏幕中心與邊框部分之間的亮度差異較大
2.均勻值越接近“ 1”,均勻性越好;規(guī)格值<1.5
3.亮度檢測(cè)通常需要5或9或13點(diǎn)
二.顏色均勻度:顏色均勻度
定義:LCD屏幕的白色,紅色,綠色和藍(lán)色屏幕的均勻性
測(cè)試步驟:
1.將要測(cè)試的面板和測(cè)試設(shè)備安裝在環(huán)境光泄漏<2 Lux的暗室中
2.預(yù)熱時(shí)間:20分鐘時(shí)出現(xiàn)白色,紅色,綠色,藍(lán)色屏幕。
3.分別測(cè)量9個(gè)點(diǎn)的X和Y值,并將9個(gè)點(diǎn)的罪大值除以罪小值,結(jié)果是均勻值